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加速電壓究竟會對sem掃描電鏡的觀測造成哪些影響呢?

日期:2022-08-22 13:40:19 瀏覽次數(shù):272

經(jīng)過百年的發(fā)展,目前市場上sem掃描電鏡的加速電壓范圍一般都在200V~30kV之間。加速電壓越高,電子束波長越短,掃描電鏡的分辨力越高。當對不同試樣進行不同目的地觀測時,往往要調節(jié)加速電壓和束流參數(shù)。那么加速電壓應該如何選取,加速電壓究竟會對sem掃描電鏡的觀測造成哪些影響呢?


掃描電鏡下的石墨.png 


掃描電鏡激發(fā)試樣的能量主要取決于入射束的加速電壓,當高能量的電子束入射到同一試樣中時,入射電子束與試樣相互作用區(qū)范圍的大小隨加速電壓的升高而增大;在同一加速電壓下,隨試樣組分密度的增大而減小。電鏡圖像的反差通常也會隨加速電壓的升高而增大,圖像的表面細節(jié)也會隨加速電壓的增高而減少。

在實際工作中要采集到一幅好照片,除了要有好的儀器設備之外,選擇合適的加速電壓值也是很重要的一步。選擇高、低不同的加速電壓各有不同的優(yōu)缺點,通常應根據(jù)試樣的組分和分析目的的不同來考慮,即金屬試樣一般會選擇較高的加速電壓,輕元素組成的試樣一般會選擇較低的加速電壓。

(1)選擇高加速電壓的優(yōu)點

加速電壓越高入射電子束的波長越短,也就越容易得到高分辨力的圖像,還有抗外部電磁場的干擾能力也會增強,也不易受到試樣表層污染斑的影響,所以高的加速電壓比較適合拍攝高倍率的圖像。

(2)選擇高加速電壓的缺點

所獲得的圖像會缺少表面信息和細節(jié),易呈現(xiàn)高反差,特別是會明顯增大邊緣效應,使得到的圖像欠柔和,也會使圖像容易呈現(xiàn)生硬的感覺。另外,高的加速電壓、大的束斑也容易造成試樣的放電和損傷,以及圖形的漂移。

(3)選擇低加速電壓的優(yōu)點

sem掃描電鏡圖像的成像信息來源越趨于表面,圖像的表面細節(jié)就越顯得豐富、細膩,特別是會明顯減少邊緣效應,使得到的圖像顯得更協(xié)調、柔和。另外,低加速電壓、小束斑對試樣表面的損傷小,不容易造成試樣的荷電和圖像的漂移,也會減輕對試樣的損傷。

(4)選擇低加速電壓的缺點

加速電壓越低,電子束的波長越長,越不容易得到高分辨力的圖像,所以低加速電壓僅適合于拍攝放大倍率不太高的圖像,還有信噪也比較差,抗外部電磁場的干擾能力也較弱,對試樣表層所受的污染會變得更敏感,所以不易得到高清晰和高分辨力的圖像。

總之,在選擇加速電壓時,要考慮到高/低壓各自的優(yōu)缺點,全盤考慮、衡量之后再做決定。選擇較低的加速電壓有可能會影響圖像的信噪比,但所獲得的圖像表面信息量往往會更多、更豐富,這是很可取的一點,所以在使用掃描電鏡采集照片時應根據(jù)試樣的具體情況和現(xiàn)場的實時需求進行綜合考慮來選擇合適的加速電壓。