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SEM掃描電鏡的分類介紹

日期:2024-09-26 11:03:20 瀏覽次數(shù):56

SEM掃描電鏡,即掃描電子顯微鏡,是一種利用聚焦的高能電子束掃描樣品表面,通過激發(fā)和收集物理信息,對物質(zhì)微觀形貌進行表征的精密儀器。其分類可以從多個角度進行,以下是從電子槍種類和掃描方式兩個主要角度的分類介紹:

一、按電子槍種類分類

鎢燈絲掃描電鏡

特點:使用鎢絲作為電子發(fā)射源,通過熱發(fā)射方式產(chǎn)生電子束。鎢燈絲掃描電鏡總發(fā)射電流和束斑都較大,抗干擾能力和穩(wěn)定性都較好,低真空下可以對不導電樣品無荷電成像。

應用:適合大量的常規(guī)檢測,廣泛應用于材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機械、化學、化工、物理、電子、生物、醫(yī)學等領(lǐng)域。

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場發(fā)射掃描電鏡

特點:具有高分辨率,可分為冷場發(fā)射和熱場發(fā)射兩種。冷場發(fā)射掃描電鏡的電子束直徑*小,亮度*高,影像分辨率*優(yōu),但真空條件要求高,束流不穩(wěn)定,發(fā)射體使用壽命短。熱場發(fā)射掃描電鏡則能在較差的真空度下操作,維持較佳的發(fā)射電流穩(wěn)定度,連續(xù)工作時間長,還能與多種附件搭配實現(xiàn)綜合分析。

應用:冷場發(fā)射掃描電鏡主要用于材料科學、化學領(lǐng)域的分析;熱場發(fā)射掃描電鏡則廣泛應用于物理學、材料科學、能源科學技術(shù)等領(lǐng)域的微觀研究和分析。

六硼化鑭掃描電鏡

特點:使用六硼化鑭作為電子發(fā)射源,亮度比鎢絲高,使用壽命也較長,但需要在較好的真空環(huán)境下操作。

應用:因其性能介于鎢燈絲和場發(fā)射之間,所以在某些特定領(lǐng)域也有應用。

二、按掃描方式分類

點掃

特點:對樣品的某一位置進行微區(qū)元素分析,掃描能譜的面積較小。

應用:用于測試樣品某一點位置上的形貌及能譜信息。

線掃

特點:與點掃類似,但掃描能譜的面積相對較大,適用于對樣品某一條線位置上的形貌及能譜信息進行測試。

面掃

特點:對樣品某一面上的形貌及能譜信息進行全面測試,可以獲得更全面的元素分布信息。

應用:廣泛應用于各種需要全面了解樣品表面形貌和元素分布的領(lǐng)域。

此外,還有一種特殊類型的掃描電鏡——環(huán)境掃描電鏡,它采用多級真空壓差技術(shù),可以在較高的氣壓、濕度和壓力下工作,特別適用于觀察新鮮活體生物樣品等需要保持樣品原始狀態(tài)的場景。

綜上所述,SEM掃描電鏡的分類多種多樣,不同類型的掃描電鏡在性能和應用上各有特點,用戶可以根據(jù)具體需求選擇合適的類型進行使用。